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CAPÍTULO DE LIBRO

Fracture characterization in integrated circuit interconnect structures by cross-sectional nanoindentation

Libro: Smart Systems Integration and Reliability: honorary volume on the occasion of Herbert Reichl's 65th birthday
Autores: Ocaña Arizcorreta, Ibon; González, D.; Elizalde González, Reyes; Martínez Esnaola, José Manuel
Editorial: Goldenbogen
Fecha de publicación: 2010
Página Inicial - Final: 730 - 738
ISBN: 978-3-932434-77-8
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