Scanning Electron Microscopy (SEM)

Servicio que ofrece la posibilidad de preparación de muestras para realizar observación en SEM. Es posible preparar muestras secas de cualquier naturaleza (partículas, superficie de metales, material fibroso, componentes vegetales, animales o partes de animales, etc.), para la observación de su superficie a grandes aumentos (entre 50 y 50.000).

Equipo
Punto crítico (sustitución de etanol con dióxido de carbono o CO2) para desecación total.
Sombreador: Emitek K550 Sputter-Coater para oro, oro-paladio o carbono.

Tarifas
· Punto crítico desde etanol 100 % a CO2 líquido: 60 euros
· Sombreado: 36 euros
Estas cantidades se verán incrementadas en un 20 % en concepto de costes indirectos y con el IVA vigente.
En el caso que se necesitara completar los estudios con algún procedimiento no incluido en la presente oferta, ambas partes acordarán las condiciones correspondientes.

Ubicación de los equipos:
C/ Irunlarrea nº 1, 31008-Pamplona
Laboratorio 0D02, Ed. de Ciencias (piso 0)

Todo el trabajo será realizado por el Dr. Enrique Baquero que cuenta con una amplia experiencia en el manejo de muestras de muy diferente naturaleza. Si el trabajo realizado forma parte de un trabajo publicado (Artículo o Tesis), deberá ser citado como créditos de certificación externa.

Para solicitar el servicio contactar con el Dr. Baquero: Horario a convenir (de lunes a viernes, de 9:00 a 13:00 y de 16:00 a 19:00).

Contacto

Arturo H. Ariño
Director del Departamento
artarip@unav.es

Contacto general:
C/ Irunlarrea, 1
31008 Pamplona
España

+34 948 425600 (Ext 806296)
artarip@unav.es